　　光計測シンポジウム2010　開催のお知らせ

～～　お礼　：　　盛況に終了しました　　～～

6月9日（水）10時25分～15時40分　　　　　　パシフィコ横浜　展示会場　アネックスホールF201             (〒220-0012横浜市西区みなとみらい1-1-1)　　　　　　　会場のアクセス　http://www.pacifico.co.jp/visitor/accessmap.html
　　　　　　　　　
　　主催：光計測シンポジウム実行委員会
   共催：日本光学測定機工業会, 精密工学会メカノフォトニクス専門委員会　　招待講演　①　瞬間計測レーザー干渉計                   清原光学　代表取締役社長　清原元輔　　　　　　②　光干渉断層映像法（Ｏptical Ｃoherence Ｔomography）の最近の進歩                   宇都宮大学CORE 谷田貝豊彦

10時25分～10 時30分　開会の挨拶　埼玉医科大学　吉澤徹
10時30分～11時00分　招待講演　　瞬間計測レーザー干渉計　　　　　　　　　　　　　　　　株式会社清原光学　清原元輔 11時00分～11時15分　　講演１ 3D測定レーザ顕微鏡OLS4000による表面性状計測　　　　　　　　　　　　　　　　オリンパス（株）　　林　健彦，藤井章弘，藤本洋久 11時15分～11時30分　　講演２　インクジェット方式カラーフィルタの自動膜厚測定装置　　　　　　　　　　　　　　　            −３波長ワンショット干渉計測法の応用− 　　　　　　　　　　　　　　　東レエンジニアリング株式会社　杉原洋樹    11時30分～11時45分　　講演３　関西大学　新井泰彦 11時45分～12時00分　　講演４　高精度レーザ干渉測長機による低膨張ガラスセラミックの経年変化測定　　　　　　　　　　　　　　　（株）ニコン　インストルメンツカンパニー高橋顕 <<昼食休憩>> 13時00分～13時30分　招待講演　光干渉断層映像法（Ｏptical Ｃoherence Ｔomography）の最近の進歩　　　　　　　　　　　　　　　宇都宮大学CORE 谷田貝豊彦 13時30分～13時45分　　講演５　干渉計によるロバストな波面計測の提案　　　　　　　　　　　　　　　　キヤノンマーケティングジャパン株式会社　佐藤　敦　 13時45分～14時00分　　講演６　面発光型半導体レーザを用いた広領域波長走査干渉測長法　　　　　　　　　　　　　　　　北海道大学大学院工学研究院　　覚間誠一 14時00分～14時15分　　講演７　真空光波長を長さ基準とした高精度変位校正装置の開発　　　　　　　　　　　　　　　　株式会社ミツトヨ　　猿木　義雄 14時15分～14時30分　　講演８　レーザ走査型正弦波位相変調偏光干渉計による表面形状測定　　　　　　　　　　　　　　　新潟大学工学部　佐々木修己、齋藤烈、鈴木孝昌 14時30分～14時45分　　講演９　３Ｄ検査装置の技術紹介　　　　　　　　　　　　　　　㈱トプコン井上　尚 14時45分～15時00分　　講演10　富山県立大学　野村俊，鈴木伸哉 15時00分～15時15分　　講演11　縞パターンの投影による半透明体の濁度測定法　　　　　　　　　　　　　　　木更津工業高等専門学校　小田功 15時15分～15時30分　　講演1２　進化する測定顕微鏡　MF/MF-Uシリーズとそのアクセサリの開発　　　　　　　　　　　　　　　　株式会社ミツトヨ　　森内　栄介 15時35分　　　　　　　　　閉会の挨拶　    (講演題目等は仮題です．正式版は近日発表いたします) 　　参加費：当日申込（名刺をご用意下さい）資料代　3000円　　お問い合わせ先：　精密工学会メカノフォトニクス専門委員会事務局　　　　　　　　　　　宇都宮大学オプティクス教育研究センター　　　　　　　　　　　大谷研究室　　　　　　　　　　　〒321-8585 栃木県宇都宮市陽東7-1-2 　　　　　　　　　　　TEL&FAX 028-689-7136 　　　　　　　　　　　E-mail senspec.tuat@gmail.com                      ※講演者や講演内容に関するお問い合わせには応じかねます　　同時開催：◎　6月9～11日画像センシング展2010（アドコムメディア事務局）　　　　　　　◎　6月10日　光応用技術シンポジウムSenspec2010 　　　　　　　　最新光三次元計測　『光計測の基礎講座』

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